集成TSV和反相器的三维芯片结构及布局方法、芯片

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集成TSV和反相器的三维芯片结构及布局方法、芯片
申请号:CN202510554398
申请日期:2025-04-29
公开号:CN120471005A
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种集成TSV和反相器的三维芯片结构及布局方法、芯片,所述布局方法包括:提供具有硅通孔的硅衬底,获取硅衬底在热负载参数下的应力分布;建立纳米环栅晶体管模型,依次在硅通孔周围的硅衬底上设置若干N型及P型纳米环栅晶体管,分别获得各电学特性;根据预设电学特性范围及电学特性,获得符合N型纳米环栅晶体管的第一区及符合P型纳米环栅晶体管的第二区;建立反相器模型,在硅通孔周围的硅衬底上设置若干反相器,获得各反相器的直流特性;根据预设直流特性范围及直流特性,获得第三区;获得第一区、第二区及第三区的交集作为硅衬底上布置反相器的区域。本发明可提高三维集成电路的性能。
技术关键词
环栅晶体管 三维芯片结构 反相器 纳米 布局方法 三维集成芯片结构 硅衬底 应力 噪声容限 通孔 三维集成电路 参数 花瓣状 漏电流 符号 电压
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