一种三温测试分选机

本发明涉及自动化设备技术领域，公开了一种三温测试分选机，通过在工作台上设置保温罩，由保温罩与工作台形成测试空间,可确保测试空间内温度的一致性，使得芯片在测试空间内受热均匀，实现芯片三温测试的自动化，而且还通过增设预温装置以预先调节芯片的温度，使得芯片的整体受热更均匀，同时也因充分利用了等待的时间进行预先的温度调节而节省了测试所需的时间，从而不仅能够保证芯片测试结果的准确性，测试良率的稳定性，而且测试效率也得以提升，有利于大范围推广应用。