基于大数据的电子元器件质量智能检测系统

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基于大数据的电子元器件质量智能检测系统
申请号:CN202510566302
申请日期:2025-04-30
公开号:CN120403763A
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于大数据的电子元器件质量智能检测系统,涉及质量检测领域,包括电子元器件抽样模块、初步表观测试模块、静态电性能测试模块和动态功能测试模块,本发明动态确定抽样比例与检测频次、采用智能图像识别、设定复检机制、匹配电子元器件相应的测试标准及参数阈值、对标准测试参数进行针对性调整,系统能够更好地适应同一类型元器件在不同制造批次、工艺条件或供应链来源下的微小性能差异,避免因标准参数设定过于刚性导致的误判、漏判问题,从而提升动态功能测试阶段的检测灵敏度与准确性。
技术关键词
电子元器件 智能检测系统 样本 测试合格率 大数据 动态 参数 测试模块 电流 焊点 项目 智能图像识别 电压 定义 速率 度量 线路 扫描仪 功耗
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