芯片测试方法、芯片测试电路以及车辆

本申请提供一种芯片测试方法、芯片测试电路以及车辆，属于芯片测试技术领域，通过获取测试使能信号、电源信号、复位信号、时钟信号和数据信号，再根据该测试使能信号、该电源信号、该复位信号和该时钟信号，将该数据信号转换为待验证信息，然后根据该待验证信息和预设信息确定进入测试状态，并执行相应的测试操作，可以提高进入测试状态和/或执行测试操作的严谨性，进一步降低芯片被误触发执行测试操作的可能性，进而可以达到提高芯片防误触性能的效果。