一种芯片调试方法

本发明实施例公开了一种芯片调试方法，包括：芯片上电后，在检测到DP引脚的电压符合第一预设条件时，芯片进入调试模式，DP引脚与多组寄存器建立联系；寄存器通过DP引脚写入具有预设顺序的待烧录信号，待烧录信号中的烧录信息与寄存器组数关联；在寄存器接收到烧录指令时，芯片进入烧录模式，DP引脚与存储器建立联系，烧录指令为第一类寄存器触发信号，第一类寄存器触发信号包括寄存器地址信息和寄存器数据；在烧录模式下，烧录使能信号有效时，将其中一组寄存器中的烧录信息烧录至存储器后烧录使能信号无效，烧录使能信号再次处于有效阶段，直至烧录完成。通过本实施例的实施，能够减少芯片引脚资源，提升芯片调试速度。