一种镀膜光学元件激光辐照寿命预测方法

本发明公开了一种镀膜光学元件激光辐照寿命预测方法，包括如下步骤：获得结构缺陷含量；计算温度和应力；得到激光辐照过程中光学元件内部缺陷含量的增殖规律；计算损伤阈值的均值和标准差；计算损伤判据与寿命值。本发明基于1‑on‑1损伤阈值测试，结合激光辐照下仿真模型，能够准确确定镀膜光学元件失效的临界条件，从而为镀膜光学元件的寿命评估提供理论依据与技术支撑。本发明基于阿伦尼乌斯公式构建了镀膜光学元件的缺陷增殖模型，建立了考虑缺陷演化的多脉冲激光辐照热‑力耦合仿真模型，能计算不同激光参数作用下元件温度和应力的演变规律，实现了镀膜光学元件的寿命预测，有效解决了传统经验统计方法实验成本高、预测精度低的问题。