晶体管的测试系统、测试方法、设备及介质

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晶体管的测试系统、测试方法、设备及介质
申请号:CN202510585172
申请日期:2025-05-07
公开号:CN120490747A
公开日期:2025-08-15
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种晶体管的测试系统、测试方法、设备及介质。该测试系统包括:加热装置用于调整晶体管的温度,每个晶体管通过无感电阻与高压电源串联连接;多个驱动电路用于通过预设的开关速率控制晶体管的通断;数据测量电路用于采集每个晶体管的晶体管温度,并采集在晶体管温度以及开关速率下晶体管的晶体管输出电流;控制器用于根据目标晶体管温度以及目标开关速率,生成温度调整指令和晶体管控制指令,接收数据测量电路所检测到的晶体管温度及晶体管输出电流,对晶体管温度及晶体管输出电流进行分析,生成对晶体管的均流特性进行测试的测试结果。本申请所提供的方案能够提升晶体管并联均流特征测试的准确度。
技术关键词
晶体管 驱动电源电路 逻辑控制电路 栅极驱动电路 温度反馈电路 无感电阻 控制器 驱动芯片 计算机程序指令 调理电路 温度传感器 测试方法 加热单元 温度采集电路 电流采集电路 温度控制电路 高压电源
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