一种核电厂电子类卡件寿命预测方法、装置、设备及介质

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一种核电厂电子类卡件寿命预测方法、装置、设备及介质
申请号:CN202510587915
申请日期:2025-05-08
公开号:CN120509179A
公开日期:2025-08-19
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种核电厂电子类卡件寿命预测方法、装置、设备及介质。方法包括:针对目标电子类卡件中各子元件,获取子元件对应的运行数据,子元件对应的运行数据通过将子元件对应的操作输入到目标电子类卡件得到;根据运行数据的参数值,确定子元件对应的参数值的变化数据;根据变化数据,检测子元件是否为关键元件;根据各子元件中至少一个关键元件的参数值,确定各关键元件的预测寿命;根据各关键元件的预测寿命,确定目标电子类卡件的预测寿命。本发明实施例可以提高核电厂电子类卡件寿命预测目标的聚焦性和精准性,且能够降低电子类卡件的维护成本。
技术关键词
元件 寿命预测方法 电子 寿命预测模型 模型库 寿命预测装置 可读存储介质 数据获取模块 计算机 处理器通信 电解电容 熔断器 存储器 继电器 指令
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