通用高分辨率稻田种植强度与日历测绘系统

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通用高分辨率稻田种植强度与日历测绘系统
申请号:CN202510588591
申请日期:2025-05-08
公开号:CN121010883A
公开日期:2025-11-25
类型:发明专利
摘要
一种用于通用和自动高分辨率水稻种植强度和日历测绘的系统,其采用一个或多个处理器,用于执行采集远程C波段合成孔径雷达(SAR)数据以提取稻田的潜在插秧信号的步骤。还采集光学、红外和被动微波遥感数据并用于检验潜在插秧信号的真实性。在不使用地面实况数据(诸如田间参考样本和统计数据)的情况下,基于经认证的插秧信号生成水稻种植强度和种植日历(插秧日期和收割日期)的地图。
技术关键词
分辨率 被动微波遥感数据 周期 像素 高斯混合模型 农田 日历 合成孔径雷达数据 滤波器 日期 网格 红外遥感图像 光学遥感数据 时间序列图像 信号 稻田
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