一种基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法

本发明涉及一种基于斯托克斯参量解析的时间分辨荧光光谱测量方法，主要用于精确测量样品荧光的偏振状态。该方法利用脉冲激光器产生所需的脉冲激光序列，通过激发光调制模块对激励脉冲进行调制后，进入荧光测量模块以激发样品并收集荧光信号。随后，产生的荧光经斯托克斯参量调制模块调制，最终进入检测模块进行荧光信号采集。通过结合时间分辨荧光技术和偏振光学元件，该方法能够精确采集同步激光脉冲与荧光电信号，从而计算时间分辨的斯托克斯参量，进一步得到偏振度、方位角和椭偏度等光学特性。该方法能够适用于各向异性样品、手性样品及其他具有偏振光学性质的样品的研究，在分子光学、材料科学及生命科学等领域具有广泛的应用前景。