一种小芯片的动态负载测试方法及装置

本发明涉及数据处理的技术领域，提供了一种小芯片的动态负载测试方法及装置，包括采集小芯片在多频率负载切换过程中产生的瞬态热通量数据后，以生成热动态行为图谱，根据热动态行为图谱计算出热耦合干扰指标图，将热耦合干扰指标图输入预设的热稳定性映射矩阵，生成小芯片动态负载行为评估参数组。通过将瞬态热通量数据输入预设的热稳定性映射矩阵，以生成的小芯片动态负载行为评估参数组，提升了小芯片的热稳定性和整体性能,改善在实际应用中，现有技术存在依赖于单一的热监测数据，且在负载切换频率较高或负载扰动较大时，无法准确识别出潜在的热耦合干扰及其对系统性能影响的问题。