一种光器件缺陷检测方法与系统

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一种光器件缺陷检测方法与系统
申请号:CN202510602735
申请日期:2025-05-12
公开号:CN120125580B
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种光器件缺陷检测方法与系统,属于计算机视觉技术领域。本发明通过采集若干已知缺陷光器件的图像和性能参数,构建基础训练集;使用基础训练集对Transformer模型进行训练,获得缺陷检测模型;采集待检测器件的图像和性能参数,输入所述缺陷检测模型进行检测,获得外观缺陷检测结果、性能缺陷检测结果及外观缺陷区域坐标。本发明通过系统化的数据驱动训练和多模态信息融合,有效地提高了缺陷检测模型在光器件缺陷检测中的整体性能,显著提升了光器件缺陷检测的准确性和效率。
技术关键词
缺陷检测方法 图像特征向量 光器件 缺陷预测 编码器 注意力 外观缺陷检测 缺陷类别 参数 数据采集设备 分支 Softmax函数 多模态数据采集 检测器件 缺陷检测系统 计算机视觉技术 训练集 样本
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