一种同轴多光束多波长的正反傅立叶激光粒度仪及其测量方法

本发明公开了一种同轴多光束多波长的正反傅立叶激光粒度仪包括合束器、耦合器、第一傅里叶镜头、二向色镜、第二激光器、第二傅里叶镜头、样品窗、前向探测器、侧向探测器、后向探测器及多个第一激光器；所述第二激光器的光传播方向与各第一激光器的光传播方向相互垂直。本发明还公开了种同轴多光束多波长的正反傅立叶激光粒度仪的测量方法，包括如下步骤：步骤一、采集系统背景光强；步骤二、采集系统加样后的光强；步骤三、分别计算出每个波长的散射光强；步骤四、计算颗粒的粒度分布。本发明效拓展了激光粒度仪的测量下限和测量上限，使粒度检测范围的下限更小、上限更大，避免了漏掉量程上下限范围内的颗粒检测。