一种基于图像处理的LED虚焊空洞检测方法及系统
申请号：CN202510619465
申请日期：2025-05-14
公开号：CN120543496A
公开日期：2025-08-26
类型：发明专利
摘要
本发明涉及LED虚焊检测技术领域，提供一种基于图像处理的LED虚焊空洞检测方法及系统，方法包括：通过对标准LED图像预分区，并根据点亮瞬间的图像来建立发光二极管对应的掩膜，对后续拍摄的待检LED图像进行处理，通过计算各虚焊检测区域中的灰度变化特征来识别出该区域中存在的虚焊空洞缺陷类型，以灰度图像的处理识别的方式检测出LED产品中存在的虚焊空洞缺陷情况，降低了虚焊识别的成本，提高了识别效率。
技术关键词
空洞缺陷
空洞检测方法
图像处理
像素点
存储程序代码
红外摄像机
掩膜
数据
工业相机
图像分割
可读存储介质
外形
参数
芯片
模块
电信号
处理器
发光二极管
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检测烟包
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点云
基础
图像识别器
大规模数据挖掘
神经网络参数
神经网络算法
支持向量机算法
图像处理装置执行
指数
深度学习模型
卷曲
因子
客户端
图像信号处理器
分辨率
信噪比
视频去噪方法
图像传感器
