α放射源位移测量方法

α放射源位移测量方法，基于CMOS传感器输出的含有α响应信号的帧图像判断α放射源的位移；测量前提是α放射源产生的α粒子垂直入射CMOS传感器的感光面；方法如下：S01.图像分组及信号叠加；S02.计算所有信号点的形心；S03.对信号点进行密度聚类；S04.计算各个信号点的组合权重。本发明用于α放射源的位移测量，具有稳定性好，测量精度高(可识别α1放射源10um的位移量)的特点，能满足高精度测量场景的需求(例如工件表面α粒子污染区域的识别和定位)。