一种半导体备件库存优化方法、设备及介质

本发明涉及一种半导体备件库存优化方法、设备及介质，其中，方法包括：获取半导体企业备件的相关数据，并对相关数据进行预处理，得到产能利用率序列和预测因子；基于产能利用率序列构建支持向量回归预测模型，并将预测因子输入支持向量回归预测模型，得到备件的预测日均用量和预测日均用量残差；根据备件的预测日均用量和预测日均用量残差确定预测区间；根据预测区间生成安全库存‑保障度对照表；根据产线保障度容忍水平，找到安全库存‑保障度对照表中大于或等于产线保障度容忍水平的最小值所对应的安全库存，并作为建议安全库存；在建议安全库存合理时，将建议安全库存更新为安全库存。本发明能够实现备件需求精确预测、降低库存持有成本。