一种拓扑优化中的尺寸控制方法及相关装置

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一种拓扑优化中的尺寸控制方法及相关装置
申请号:CN202510635824
申请日期:2025-05-16
公开号:CN120654460A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种拓扑优化中的尺寸控制方法及相关装置,该方法首先建立待优化工程结构的投影密度场,然后对待优化工程结构的投影密度场进行尺寸惩罚和密度惩罚,获得尺寸和密度惩罚后的伪密度变量,进一步进行有限元分析并计算目标函数和约束的响应值并对所述响应值进行灵敏度分析。基于灵敏度分析结果进行迭代优化获得优化结果。该方法对不满足尺寸要求的区域进行惩罚,使其材料性能折减或材料用量增加导致违背尺寸要求的区域内的材料的性价比较低,违背尺寸要求的结构形式在迭代优化过程中逐渐被淘汰,从而避免了对不满足尺寸要求的结构构型进行有限元分析,减少拓扑优化过程的耗时,提高了拓扑优化效率。
技术关键词
优化工程结构 密度 尺寸控制方法 变量 实体 尺寸控制装置 孔洞结构 电子设备 计算机存储介质 系列 存储计算机程序 形态 矩阵 处理器 参数 存储器 数值 算法
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