测试方法、装置、电子设备、存储介质及计算机程序产品

本公开是关于一种测试方法、装置、电子设备、存储介质及计算机程序产品，所述方法包括：获取芯片上待测的多个功能组件的配置信息；其中，配置信息中包括每一功能组件的总线接口协议，以及多个功能组件之间的连接关系；基于配置信息中每一功能组件的总线接口协议，从预设的模版库中确定对每一功能组件进行模拟的验证知识产权VIP模块，并基于模拟的多个VIP模块之间的连接关系形成测试环境；其中，多个VIP模块之间的连接关系与多个功能组件之间的连接关系相同；基于多个VIP模块之间的连接关系，从模版库中确定关联多个VIP模块的测试用例；在测试环境下，基于测试用例，利用多个VIP模块对多个功能组件之间的通路进行测试。该方法，能够提升测试的效率。