一种基于深度学习的荧光寿命成像相位解析方法、终端及可读存储介质

本发明公开了一种基于深度学习的荧光寿命成像相位解析方法、终端及可读存储介质，所述方法包括：获取被测样品图像中每个像素的时间相关单光子计数的计数数据，以及测量所使用仪器的响应函数，并将卷积衰减数据和所述响应函数输入到反卷积神经网络；所述反卷积神经网络根据所述响应函数和每个像素的所述计数数据输出每个像素的反卷积信号；根据每个像素的所述反卷积信号进行相位变换，并获取每个像素的荧光寿命。本发明通过将仪器响应引起的时间偏移视为仪器响应函数造成的卷积，进而采用神经网络对计数数据进行反卷积，实现对于响应函数引起的时间偏移进行校准修正，无需进行传统的相位校准过程，实现了对于寿命的准确分析。