一种电子芯片运行故障诊断方法、系统及存储介质

本发明涉及芯片故障诊断技术领域，尤其涉及一种电子芯片运行故障诊断方法、系统及存储介质，包括故障诊断控制中心、基础物理缺陷单元、基础性能分析单元、热力检测单元、动态诊断单元以及诊断显示单元；本发明初步从基础物理和基础性能状态两个点进行分析，降低目标电子芯片运行故障诊断误差风险，而通过信息递进的方式从热力学行为诊断角度进行分析，有助于提高目标电子芯片故障诊断准确性，同时伴随着测评处理和交叉联合诊断分析，以便从在线功能表现和状态表现两个点结合分析目标电子芯片是否故障，以便直观的了解到目标电子芯片的运行故障风险程度，以便对目标电子芯片进行合理、有针对性的管理，进而有助于提高故障诊断可靠性。