瑕疵检测方法、检测设备及存储介质

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瑕疵检测方法、检测设备及存储介质
申请号:CN202510654708
申请日期:2025-05-20
公开号:CN120746926A
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种瑕疵检测方法、检测设备及存储介质。瑕疵检测方法包括:获取产品的产品图像;基于从产品图像中识别得到的瑕疵,对述产品图像进行分割,获得至少一张瑕疵图像以及每张瑕疵图像的第一瑕疵信息;基于每张瑕疵图像的第一瑕疵信息从至少一张瑕疵图像中确定目标图像;及对目标图像中的瑕疵进行检测,获得目标图像的第二瑕疵信息。本发明可基于产品图像对产品的瑕疵进行检测,提升产品检测效率。
技术关键词
瑕疵检测方法 检测设备 照明设备 像素 边缘检测算法 图像处理算法 轮廓 可读存储介质 相机 处理器 指令 存储器 计算机 标识 尺寸
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