一种芯片设计验证方法、装置、设备及存储介质

本发明公开了一种芯片设计验证方法、装置、设备及存储介质，包括：获取目标芯片的设计模块，根据所述目标芯片对应的逻辑功能，对所述目标芯片的设计模块进行分割，得到多个模块分割结果；将各所述模块分割结果分配至对应的FPGA颗粒；通过多个FPGA颗粒，对所述目标芯片进行原型验证或硬件仿真。本发明实施例的技术方案可以降低信号处理的链路延迟，提高芯片的设计验证效率。