摘要
本公开提供了一种扫描链重排序方法、计算机设备及存储介质。该方法包括:获取芯片设计版图;根据芯片设计版图确定多条第一扫描链,将多条第一扫描链合并成第二扫描链;对第二扫描链进行重排序,生成第三扫描链;确定每条第一扫描链的元件数量,根据元件数量对第三扫描链进行切分,生成与多条第一扫描链数量相同的重排序后的多条第四扫描链。
技术关键词
扫描链
元件
排序方法
聚类算法
计算机设备
版图
处理器
芯片
可读存储介质
程序
存储器
模板
指令
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文本生成方法
摘要
关键词
文本分析系统
文本生成装置
Mura缺陷
色差
缺陷检测方法
缺陷检测单元
置信度阈值