一种基于芯粒集成技术的芯粒自检方法和系统

本发明提供了一种基于芯粒集成技术的芯粒自检方法和系统，方法包括：获取芯片的当前运行信息、芯粒自检任务和各芯粒的芯粒信息，并基于各芯粒的芯粒信息，识别各芯粒的芯粒功能信息；基于芯粒自检任务，识别各芯粒的芯粒自检需求信息，并基于当前运行信息、以及各芯粒的芯粒功能信息，生成各芯粒的芯粒自检序列和芯粒自检时间点；基于各芯粒的芯粒自检需求信和芯粒功能信息，生成每个芯粒对应的芯粒辅助自检流程和辅助芯粒，并基于各芯粒的芯粒自检序列、芯粒自检时间点、芯粒辅助自检流程和辅助芯粒，生成芯片的当前多芯粒自检方案。采用本方案能够提升了对各芯粒的自检效果。