一种GPU性能测试方法及存储介质

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一种GPU性能测试方法及存储介质
申请号:CN202510662909
申请日期:2025-05-22
公开号:CN120179483A
公开日期:2025-06-20
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种GPU性能测试方法及存储介质,生成两个第一矩阵,控制GPU对第一矩阵执行矩阵乘法,以模拟真实场景下GPU的计算任务,进行GPU性能测试,接着通过调用ipmitool工具,获取GPU的第一温度值,当第一温度值超过温度阈值时,通过调用ipmitool命令,强制关闭GPU的硬件电源,存储最近多次的GPU任务的耗时数据,根据耗时数据动态调整超时阈值,根据超时阈值和耗时数据分析GPU的性能变化。实时监控GPU的第一温度值并在第一温度值过高时采取保护措施,有利于避免GPU的硬件损坏。根据历史的耗时数据动态调整超时阈值,从而适应GPU性能波动,降低超时误报率,提升GPU性能测试的准确性。
技术关键词
GPU性能测试方法 执行矩阵乘法 模拟真实场景 数据 随机噪声 误差 动态 分块 命令 电源 校正 处理器
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