基于扩频时域反射的IGBT模块检测方法、设备及介质

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基于扩频时域反射的IGBT模块检测方法、设备及介质
申请号:CN202510668465
申请日期:2025-05-23
公开号:CN120468613A
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本申请公开了基于扩频时域反射的IGBT模块检测方法、设备及介质,方法包括:构建IGBT模块对应的模块等效模型,并确定模块等效模型对应的模型参数;基于扩频时域反射信号平台生成扩频时域反射信号;通过断裂模块等效模型中的指定键合线,对IGBT模块进行老化模拟,并确定老化模拟后的IGBT模块对应的目标模型参数;将扩频时域反射信号传输至老化模拟后的IGBT模块,以通过目标模型参数,确定IGBT模块通过扩频时域反射信号得到的入射信号和反射信号;对入射信号和反射信号进行互相关,得到互相关的信号幅值,并建立信号幅值与老化位置之间的映射关系,以基于映射关系,实现对IGBT模块的老化检测。
技术关键词
模块检测方法 时域反射信号 IGBT模块 IGBT芯片 电流模型 电容 参数 键合线 非易失性计算机存储介质 计算机可执行指令 模块检测设备 二极管 栅极驱动电压 跨导系数 表征器件
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