一种自校准超短脉冲激光形状测量装置及方法

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一种自校准超短脉冲激光形状测量装置及方法
申请号:CN202510670513
申请日期:2025-05-23
公开号:CN120538679A
公开日期:2025-08-26
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种自校准超短脉冲激光形状测量装置及方法,属于超短脉冲激光技术领域,装置包括激光器、分束镜、第一平面反射镜、时域扫描模块、第二平面反射镜、第三平面反射镜、第四平面反射镜、色散扫描模块、第五平面反射镜、第六平面反射镜、离轴抛物面反射镜、非线性光学介质、光谱探测模块及计算机终端;方法利用粒子群算法优化神经网络,进而实现激光脉冲形状重构,精准待测激光脉冲形状和宽度参数。本发明能够提高超短脉冲激光时域宽度和形状测量准确性和稳定性。
技术关键词
平面反射镜 激光脉冲形状 非线性光学介质 扫描模块 离轴抛物面反射镜 楔形棱镜 二次谐波信号 重构模型 计算机终端 形状测量方法 校准 超短脉冲激光技术 光纤耦合器 控制精密位移 粒子 显示计算结果
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