基于自适应Q学习的电磁微镜的输出反馈跟踪控制方法及装置

本发明公开了一种基于自适应Q学习的电磁微镜的输出反馈跟踪控制方法及装置，所述方法包括：基于电磁微镜的物理结构，构建电磁微镜模型；将电磁微镜模型与参考轨迹结合构建增广系统，以将轨迹跟踪问题转化为状态调节问题；基于增广系统，设计Q函数贝尔曼方程，以建立数据驱动的性能评估框架；基于增广系统，利用历史输入、输出数据重构增广系统状态，以避免角速度测量；基于重构的增广系统状态和Q函数贝尔曼方程，得到最优控制输入和新的Q函数贝尔曼方程；基于最优控制输入和新Q函数贝尔曼方程，利用自适应Q学习算法求解控制问题。本发明突破了传统模型依赖控制方法的局限，仅依靠历史输入、输出数据实现最优跟踪控制。