一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质

本申请的实施例公开了一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，涉及集成电路测试技术领域，为便于减少芯片在最终测试阶段的时间而发明。所述方法应用于最终测试阶段，所述芯片包括多个待测芯粒，所述方法包括：从所述多个待测芯粒中，确定至少两个目标待测芯粒；分别获取所述至少两个目标待测芯粒在晶圆测试阶段使用的测试向量；分别向所述至少两个目标待测芯粒，提供对应的所述测试向量，以对所述至少两个目标待测芯粒进行并行测试。本申请适用于对芯片进行测试。