一种光模块误码率测试系统

本发明公开一种光模块误码率测试系统，涉及光模块集成电路芯片测试技术领域，解决无法模拟仿真和准确分析光模块集成电路芯片功能测试问题，其中电路仿真模拟方法通过电路模型构建模块、芯片启动仿真测试模块、芯片复位仿真测试模块、芯片应答仿真测试模块和芯片电路误码测试模块实现模拟仿真测试芯片功能，不会对实际光模块集成电路芯片造成损害，芯片功能逻辑分析模块采用时序状态机分析算法模型和波形频谱分析算法模型对测试数据进行分析，实现准确地测试分析出芯片的启动功能、复位功能、中断信号应答功能和电路稳定功能，本发明大大提高了光模块集成电路芯片功能测试的准确性，避免因为测试过程对实际光模块集成电路芯片造成损害问题。