集成电路拥塞预测方法及装置、电子设备

本发明涉及集成电路技术领域，公开了一种集成电路拥塞预测方法及装置、电子设备，包括：提取待测集成电路的至少两种拥塞预测特征图；分别对以上每种拥塞预测特征图进行栅格化和归一化处理，得到对应的二维像素矩阵图；将所述二维像素矩阵图输入到拥塞预测模型，获得拥塞热点图。解决了相关技术中存在的拥塞模型预测精度低、模型庞大且耗时长的技术问题。