一种高可靠性高性能存储设备

本发明公开了一种高可靠性高性能存储设备，该存储设备的工作过程包括以下步骤：S1、数据写入TLC Flash和SLC/pSLC Flash：分为双通道主控方案和高速单通道主控方案；S2、数据校验：当TLC Flash写入完成时，主控芯片对TLC Flash中的数据进行校验，判断数据是否稳定；S3、数据修复：如果TLC Flash中存在不稳定数据，主控芯片从SLC/pSLC Flash中读取对应数据，替换掉TLC Flash中的不稳定数据。本发明通过双通道主控或高速单通道主控，同时将数据写入TLC Flash和SLC/pSLC Flash，并利用后端多余性能进行数据校验和修复，有效提高了存储设备的性能和可靠性。