用于量子芯片测控系统的信号生成装置及方法

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用于量子芯片测控系统的信号生成装置及方法
申请号:CN202510690422
申请日期:2025-05-27
公开号:CN120200677B
公开日期:2025-08-29
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种用于量子芯片测控系统的信号生成装置及方法,主要涉及量子计算技术领域。该信号生成装置包括:光频率梳光源,用于生成包括多条间隔频率相等的初始谱线的频率梳光信号;频谱分束器,用于将频率梳光信号包括的多条初始谱线分别进行空间分离,得到多条初始谱线各自的分立谱线;调制器阵列,用于对各条分立谱线分别进行幅度和相位调制,得到多条分立谱线各自的调制谱线;频谱合路器,用于对多条调制谱线进行合束,得到合成光信号;色散处理模块,用于对合成光信号进行色散处理,以通过频时映射生成时域光信号;光电探测器,用于将时域光信号转换为射频电信号,以得到目标射频信号。
技术关键词
信号生成装置 光信号 量子芯片测控 波导阵列光栅 幅度调制器 相位调制器 频率梳光源 空间光调制器阵列 光电探测器 信号生成方法 分束器 稀释制冷机 合路器 射频 量子比特操控 光放大器
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