一种半监督变换检测晶圆缺陷的方法和系统

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一种半监督变换检测晶圆缺陷的方法和系统
申请号:CN202510691528
申请日期:2025-05-27
公开号:CN120198441A
公开日期:2025-06-24
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种半监督变换检测晶圆缺陷的方法和系统,基于多重扰动一致性正则化,包括:对晶圆图像进行处理,获得已标注晶圆数据和未标注晶圆数据;构建变化检测网络,使用已标注晶圆数据输入变化检测网络进行有监督训练;对未标注晶圆数据进行强弱数据增强,得到未标注晶圆数据的中间特征,并进行图像强弱变化一致性学习;对未标注晶圆数据的中间特征进行多种扰动,生成扰动后的特征图,并计算特征扰动一致性损失函数;计算训练后的模型的总损失函数,得到最终模型;将未标注晶圆数据输入最终模型,得到晶圆缺陷检测结果。本发明引入半监督学习,大幅减少人工标注成本;通过多重扰动一致性正则化,提高晶圆变化检测的准确性和鲁棒性。
技术关键词
检测晶圆缺陷 变化检测网络 晶圆缺陷检测 数据 图像 输出特征 解码器 半监督学习 特征提取器 标注软件 预训练模型 图片 处理器 代表 随机噪声 模块 切片 可读存储介质 存储器
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