一种芯片功耗检测分析方法及系统

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一种芯片功耗检测分析方法及系统
申请号:CN202510693286
申请日期:2025-05-27
公开号:CN120385850A
公开日期:2025-07-29
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种芯片功耗检测分析方法及系统,涉及芯片功耗检测技术领域。一种芯片功耗检测分析系统,包括有:功耗检测模块、电源供应优化模块和芯片控制模块。本发明通过芯片功耗检测模型,能够准确去噪、提取关键特征,并建立与功耗相关的关联模型,确保功耗检测的精确性和可靠性;芯片功耗检测电路能够根据实时获取的电流、电压、温度和工作频率等数据,进行动态调整,并持续优化功耗分析与电源供应策略,从而提高芯片的能源效率和性能;通过基于电源供应优化模型进行功耗匹配,结合特征提取、分形预测等技术,实现了芯片功耗的精准预测和电源控制策略的优化,进一步提升芯片的能源效率,减少能耗。
技术关键词
检测分析方法 功耗检测电路 卷积特征 优化控制策略 芯片工作频率 检测分析系统 电源控制单元 模式匹配 电流 数据获取单元 电压 异常轨迹 功耗检测技术 噪声整形 分析芯片 混沌神经网络
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