一种微腔光芯片的全自动参数测量系统及方法

本发明提供了一种微腔光芯片的全自动参数测量系统及方法，该系统通过集成DFB可调谐激光器光源、隔离器、EDFA放大器、ASE滤波器、基频光带阻滤波器、可选装分束器、VOA、PD及主控模块等组件，实现了对微腔光芯片特征参数的自动化测量。系统通过特定接口与待测芯片连接，能够自动获取各温度下的微腔光芯片中心波长变化曲线、传输谱特征余晖图及预期孤子态强度范围。本发明旨在自动化测试微腔光芯片特征参数，从而辅助减少采用芯片调谐光频梳产生的时间，同时给出预期孤子态强度范围以减少过度调谐问题，以简化芯片应用中所需前置测试流程，对集成光频梳的调试产生带来极大的便利。