通断测试接口板、通道对应关系自动生成方法及存储介质

本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种通断测试接口板、通道对应关系自动生成方法及存储介质，包括测试接口板上设置有中心相同的若干正方形测试区域，正方形测试区域沿着测试接口板的对角线自内向外等比例增加，每个所述正方形测试区域外侧连接有相同数量的焊盘，焊盘等间隔均匀分布，焊盘的另一端设置在所述测试接口板外，其中内侧的正方形测试区域所连接的焊盘穿设于其外侧的正方形测试区域，且位于外侧的正方形测试区域所连接的焊盘之间；通过将焊盘进行特别的布局，实现测试接口板兼容各类型、各规格型号的待测试芯片，同时通过焊盘与通道的对应关系，提升芯片测试整体的效率，保证复杂封装测试的准确性，增强自动化测试程度。