基于图像识别的磁条外观缺陷自动检测方法及系统

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基于图像识别的磁条外观缺陷自动检测方法及系统
申请号:CN202510704084
申请日期:2025-05-29
公开号:CN120471904B
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于图像识别的磁条外观缺陷自动检测方法及系统,涉及图像识别技术领域。所述方法包括:对目标磁条进行几何干扰图像采集,生成第一图像数据;对目标磁条进行线扫描图像采集,生成第二图像数据;对第一图像数据执行基于几何畸变的图像识别,生成第一缺陷检测结果;对第二图像数据中连续多帧图像执行基于空间亮度梯度计算的图像识别,生成第二缺陷检测结果;分析第一缺陷检测结果与第二缺陷检测结果进行缺陷互验,基于缺陷互验结果调用预训练的生成式还原模型进行缺陷修复下的残差检测,生成第三缺陷检测结果。解决了现有技术中磁条外观缺陷检测准确率较低的技术问题,达到了提高磁条外观缺陷检测准确率与可靠性的技术效果。
技术关键词
缺陷自动检测方法 图像采集装置 激活磁条 像素点 外观缺陷检测 结构光图案 缺陷自动检测系统 图像识别模块 畸变特征 图像采集模块 残差信息 亮度 数据 生成式网络 线扫描相机 修补缺陷
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