碳化硅晶锭浓度斑图像定位方法、系统、介质和设备

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碳化硅晶锭浓度斑图像定位方法、系统、介质和设备
申请号:CN202510704864
申请日期:2025-05-29
公开号:CN120318216A
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种碳化硅晶锭浓度斑图像定位方法、系统、介质和设备,方法包括如下步骤:S1、采用线扫图象采集装置采集定位后的晶锭表面的图像,对采集的图像进行增强处理和滤波预处理得出可用于计算的计算图像;S2、得到训练后的模型;S3、使用训练后的模型对图象进行预测,得到初步的浓度斑区域,再通过连通域分析,选择面积最大的浓度斑区域为待定浓度斑区域A1,通过特征分析对晶锭进行粗定位,之后设定搜索区域比例,选出限定浓度斑可能出现的区域几何限定区域A2,选择A1和A2的交集区域为浓度斑区域A;S4、计算浓度斑区域A的外接矩形,确定每条激光切割线的起点和终点。优点:提高碳化硅晶锭浓度斑的定位精度以及识别率。
技术关键词
图像定位方法 碳化硅晶锭 语义分割模型 图象采集装置 图像定位系统 图形采集装置 滤波 切割线 通信接口 后处理模块 终点 矩形 模型训练模块 图像采集装置 可读存储介质 图像采集模块 预训练模型 存储器 激光
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