集成电路板的质量检测系统

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集成电路板的质量检测系统
申请号:CN202510707922
申请日期:2025-05-29
公开号:CN120847094A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电路板检测技术领域,特别涉及集成电路板的质量检测系统,包括:图像采集模块,用于通过相机阵列与多光谱光源协同采集集成电路板的表面图像及温度分布图像;预处理模块,用于对所述表面图像及温度分布图像进行噪声抑制、畸变校正及多光谱融合,并生成标准化检测图像;缺陷检测模块,用于从所述标准化检测图像中提取焊点轮廓特征、导线连通性特征和介质层厚度特征,本发明能够分离集成电路板的焊点图像与内层走线图像,消除层间干扰,且实现了对缺陷风险的多维度更准确评估,避免了传统孤立分析造成的误判,能够动态调整多光谱光源的照射角度与强度,以及提高了集成电路板质量检测的可靠性和效率。
技术关键词
温度分布图像 轮廓特征 层厚度 多光谱 焊点 分层缺陷 热力图 电磁耦合系数 强化学习算法 光学干涉原理 干涉条纹图像 光源 图像采集模块 集成电路板 介质 噪声抑制 矩阵 动态
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