用于硅光芯片耦合测试的光纤位姿调整方法和系统

本发明涉及一种用于硅光芯片耦合测试的光纤位姿调整方法和系统，其包括：步骤S1：获取光纤耦合器的初始位置；步骤S2：控制光纤端面从所述初始位置出发沿预设螺旋路径进行移动；所述预设螺旋路径上具有多个光功率检测点位；其中，光纤端面移动到任一光功率检测点位处时，若光纤在该光功率检测点位处的光功率值在预设范围内，则停止光纤端面的移动；步骤S3：以光纤端面在步骤S2中最终停止位置处的中心坐标作为初始位置，采用自适应随机梯度下降算法和tent混沌映射对光纤端面中心坐标进行优化；步骤S4：根据优化结果，控制光纤端面移动。本发明通过通过粗对准和精对准两个阶段，可以提高光纤与硅光芯片上光纤耦合器的耦合精度。