芯片测试设备及方法

本申请公开了一种芯片测试设备及方法，涉及芯片测试技术领域，包括：芯片测试设备包括至少一个通电标识块和多个测试底座，所述通电标识块与所述测试底座并联连接；所述通电标识块，用于存储芯片测试设备的标识信息以及待测试芯片的测试信息；所述测试底座，用于固定和连接待测试芯片，通过将通电标识块和测试底座并联设置，可以独立控制通电标识块和测试底座的通电情况，减少在读取标识信息时对待测试芯片所产生的影响，提高测试效果。