芯片自动测试分选系统

本发明涉及一种芯片自动测试分选系统，属于集成电路测试技术领域。该芯片自动测试分选系统包括自动进料模块、自动出料模块、高低温箱、测试臂模块和测试系统；自动进料模块和自动出料模块分别设置于高低温箱的两侧，测试系统设置于高低温箱的下方，测试臂模块设置于高低温箱的上方；自动进料模块和自动出料模块内均设置有托盘提篮、第一自动升降台和托盘模块拖动机构；自动升降台与托盘提篮相连，以驱动托盘提篮上下移动，托盘提篮内放置有若干托盘模块，托盘模块拖动机构可拖动托盘模块左右移动。本发明的芯片自动测试分选系统能够提供芯片在高温环境和低温环境下工作数据状态，并可根据芯片数据状态进行分选并提高芯片测试效率。