一种海洋盐雾环境下的电子元器件参数阵列通道检测方法

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一种海洋盐雾环境下的电子元器件参数阵列通道检测方法
申请号:CN202510723211
申请日期:2025-05-30
公开号:CN120685985A
公开日期:2025-09-23
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种海洋盐雾环境下的电子元器件参数阵列通道检测方法,涉及电子设备监测技术领域,该方法包括以下步骤:在海洋盐雾环境中安装多个传感器,持续监测等电子元器件的数据;通过深度学习模型对已预处理到的数据进行分析;构建故障预测机制,基于深度学习模型得出的实时识别结果,进一步分析元件当前的工作状态,识别出是否存在异常;通过云平台将历史预测结果与实时预测结果进行整合,通过大数据分析发现长期运行中的趋势,计算综合判定值。本发明通过基于深度学习的故障预测机制,结合实时数据和历史数据,能够精准预测元件故障的发生,避免了传统方法中依赖人工检测的局限性,提前采取预防措施,提高电子元器件的可靠性和安全性。
技术关键词
电子元器件参数 通道检测方法 盐雾环境 深度学习模型 海洋 云平台 电子设备监测技术 传感器 阵列 元件 深度学习分析 历史故障数据 频率 可视化设备 实时监测数据 表达式 故障发生率 深度学习算法
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