一种触控芯片的检测方法、装置、系统及设备

本申请实施例提供一种触控芯片的检测方法、装置、系统及设备。其中，检测方法包括：向触发模块发送控制信号，以触发目标传感器；获取待检测信息；基于所述待检测信息确定待检测触控芯片是否存在异常；其中，基于所述待检测信息确定待检测触控芯片是否存在异常包括：基于所述待检测信息包括目标检测信息，确定所述待检测触控芯片处于正常状态；其中，所述目标检测信息为所述待检测触控芯片产生的、且与所述目标传感器被触发后相匹配的信号。本申请实施例提供的检测方法能够检测触控芯片是否处于正常工作状态，进而保证触控的检测处于正常状态。