代码覆盖率的处理方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种代码覆盖率的处理方法、电子设备和介质，方法包括：步骤S1、基于待测芯片设计运行回归测试中的测试用例，获取每一代码覆盖对象对应的文本信息；步骤S2、解析属性信息，获取每一代码覆盖对象对应的芯片层次信息、代码覆盖率类型，解析运行信息，获取每一代码覆盖对象对应的回归测试序号、回归测试时间和运行结果；步骤S3、生成每一代码覆盖对象对应的元数据，并存储至预设的脚本文件中；步骤S4、解析预设的脚本文件中的元数据，生成第一数据库、第二数据库和第三数据库；步骤S5、显示代码覆盖率的形态。本发明提高了代码覆盖率的处理效率，减少了代码覆盖率的处理过程中的资源消耗。