测试芯片的方法、装置以及存储介质

本申请实施例提供一种测试芯片的方法、装置以及存储介质。该方法应用于测试系统中的上位机，该方法包括：显示配置信息设置界面；在配置信息设置界面获取多个配置项分别对应的设置值，得到测试配置文件；基于测试配置文件生成测试脚本；运行测试脚本，以测试待测芯片。本申请实施例提供的技术方案，对待测芯片进行测试时，只需在测试配置界面填入本次测试过程涉及的配置信息以形成测试配置文件，会利用自动测试程序对测试配置文件处理，自动生成测试脚本，最后运行测试脚本以实现对待测芯片的测试，该过程无需技术人员定制测试脚本，因此可以降低测试脚本的开发难度，提高测试脚本的编写效率，进而提高测试效率。