工业缺陷的评级方法、电子设备和存储介质

本发明提供了一种工业缺陷的评级方法、电子设备和存储介质，属于工业缺陷检测领域。其中的工业缺陷的评级方法包括：获取待检测产品图像；将所述待检测产品图像输入到训练好的缺陷特征提取模型中，得到缺陷特征；所述缺陷特征包括异常热力图、特征图和候选缺陷区域的边界坐标；基于所述缺陷特征，通过基于特征距离的种子区域生长算法，生成缺陷区域掩码；基于所述缺陷区域掩码，从所述产品图像中提取得到缺陷区域图像；将所述缺陷区域图像输入到改进的NaViT模型中，得到工业缺陷的评级结果。本发明方法可对任意缺陷类型进行评级，模型性能显著提升，具备更广泛的应用场景。