存储器读写测试加速系统、方法和存储介质

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存储器读写测试加速系统、方法和存储介质
申请号:CN202510738535
申请日期:2025-06-04
公开号:CN120581059A
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本申请涉及存储器测试领域,公开了一种存储器读写测试加速系统、方法和存储介质。该系统包括CPU与SOC芯片;SOC芯片包含读写加速器、DDR内存控制器和比较器;CPU用于在执行SLT模式下的读写测试时,持续输出携带有目标地址和目标数据的写指令;读写加速器用于确定写指令为读指令时,将目标数据发送至比较器,将目标地址发送至DDR内存控制器,以使其向待测存储器发起内存访问,以获取回读数据;比较器用于将回读数据与目标数据进行比对,得到比对结果。本申请在SLT测试模式下执行存储器的读写测试时,该CPU仅下发写指令,读写加速器对该写指令进行转换和下发,从而减轻CPU负荷,以提高存储器测试效率。
技术关键词
内存控制器 加速系统 指令 SOC芯片 PCIE接口 加速器 测试加速方法 读数据 存储器测试 标记 解码模块 序列 计算机存储介质 处理单元 模式 队列
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