建立表面缺陷检测模型的方法与缺陷检测系统

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建立表面缺陷检测模型的方法与缺陷检测系统
申请号:CN202510741895
申请日期:2025-06-04
公开号:CN120598920A
公开日期:2025-09-05
类型:发明专利
摘要
本发明涉及建立表面缺陷检测模型的方法与缺陷检测系统。缺陷检测系统以照相模块采集待检测对象的图像,预处理和标注待检测对象图像后形成表面缺陷图像数据集,引入更高分辨率的特征层并采用双向特征融合策略,结合简单注意力模块的注意力机制和多尺度特征提取模块实现多尺度简单注意力模块,以能精准提取待检测对象的小目标缺陷的关键特征,之后使用表面缺陷图像数据集训练针对待检测对象执行小目标缺陷检测的表面缺陷检测模型,以对待检测对象执行小目标缺陷检测,输出表面缺陷检测结果。
技术关键词
表面缺陷检测 缺陷检测系统 表面缺陷图像 高密度互连印刷电路板 对象 照相模块 多尺度特征提取 多波段光源 特征提取模块 融合策略 光源模块 光源控制器 注意力机制 机器学习算法 信号处理模块 扫描仪
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